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ICT的功能与作用
一、ICT的通用功能:
   1.能够在短短的数秒钟内,全检出组装电路板上零件:电阻、电容、电感、电晶体、FET、LED,普通二极体、稳压二极体、光藕器、IC等零件,是否在我们设计的规格内运作。
   2.能够先期找出制程不良所在,如线路短路、断路、组件漏件、反向、错件、空焊等不良问题,回馈到制程的改善。
   3.能够将上述故障或不良资讯以印表机印出测试结果,包括故障位置、零件标准值、测试值,以供维修人员参考。可以有效降低人员对产品技术依赖度,不需对产品线路了解,照样有维修能力。
   4.能够将测试不良资讯统计,生产管理人员加以分析,可以找出各种不良的产生原因,包括人为的因素在内,使之各个解决、完善、指正,藉以提升电路板制造及品质能力。
   正是由于ICT以上功能所带给客户的巨大效益,才有今天ICT得已广泛运用的现实!
二、特别功能:
1.电解电容极性测试技术:
   电解电容反向、漏件100%可测
   并联电解电容反向、漏件100%可测
电解电容极性测试技术的工作原理:
1.1就是利用第三根针施加一激发讯号(Trigger Signal)(如图一、二)于电解电容顶端,并量测第三点与正或负端间的反应讯号(如图三)
1.2利用DSP(数字讯号处理)技术加以运算后,转换成一组向量(Vectors)(如图四)
透过DFT(Discrete Fourier Transform,离散式傅立叶变换)及FFT(Fast Fourier Transform,快速傅立叶变换)等运算方式,将量得的反应讯号由 t(time) domain(示波器讯号)转换成 f(frequency) domain(频谱分析仪讯号)的向量组。
1.3经由Learning取得一组标准向量值,而后待测物(DUT---Device Under Test)所量测的值(如图五)再经Pattern Match(特征辨识比对技术)与原标准值比对,以决定待测物极性正确与否。
Pattern Match的应用如:指纹辨识、伪钞辨识、视网膜辨识等均是。
                                             
 
2.IC空焊测试技术:
BGA空焊趋近100%测试
INTEL845(北桥)趋近100%测试
SCSI SMD CONNECTOR趋近100%测试
PCI SMD CONNECTOR趋近100%测试
IC空焊测试技术原理
利用感应片(Sensor Pad)与待测组件上方表面紧密接触,在感应片上装置有同步检波放大器(Synchronous Detector AMP.),经过三端将反应讯号传至开关卡(Switch Card)量测,量测后结果再经DSP运算。(图一)
                                          
所量测者系DUT与感应片之间的感应电场 ( V/m ),其值与感应接触面积无关,而与两者间距平方成反比。
                                                           
3.微阻测试技术:
四线式测试技术可以克服线阻及接触电阻所产生的量测误差。
测试精度可达到mΩ级。

                        
原理:
针对小电阻的量测,传统量测法属二线式(如右图所示)
RMEAS = V/A = r1 + r2 + RDUT
若r1 + r2 之线内阻值与RDUT值越接近,其误差越大。

四线式量测法其接线如右图所示
RMEAS = V = RDUT
∵ Im+ = Im- ≒ 0
∴VMEAS ≒ VDUT
不受r1 + r2 及rm1 + rm2之影响
                    

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