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JET-300
的掃描板採用了可耐用二億次的REED RELAY,徹底解決了ICT 掃描板容易損壞的問題, 由於REED RELAY 的應用,使JET-300在性能上大有改善。諸如:
1. Zener diode 測試電壓可達50v,所有測試點皆可使用。
2. 小電容和小電感量測較準確和穩定,較不受溫度的影響。
3. 電容極性的可偵測率較用CMOS RELAY時大為提高。
4. 可耐高壓又有殘存電壓偵測功能,掃描板受到充分的保護。
5. 配置功能測試的可行性較高。
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